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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
신중한 (호서대학교) 오삼권 (호서대학교)
저널정보
한국멀티미디어학회 한국멀티미디어학회 학술발표논문집 2008년도 춘계학술발표논문집
발행연도
2008.5
수록면
411 - 414 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2008

동적 존 할당 번인 시험 시스템의 원격 모니터링
신중한 ,  오삼권 한국멀티미디어학회 학술발표논문집 2008.05 학술대회자료
동적 존 할당이 가능한 번인 시험 시스템
신중한 ,  오삼권 한국멀티미디어학회 학술발표논문집 2008.05 학술대회자료

초록· 키워드

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번인 시험(burn-in test)은 처음부터 불량인 메모리 또는 비 메모리 반도체 소자를 찾아내기 위한 목적으로 전압, 온도, 시간 등의 조건을 반도체 소자에 가하여 수행하는 시험이다. 번인 시험을 위해서는 번인 보드를 한 슬롯(slot)에 삽입하는데, 이런 슬롯들의 집합을 존(zone)이라 부른다. 한 존을 구성하는 슬롯들은 동일 종류의 반도체 소자들을 꽂은 번인 보드들만을 가질 수 있다. 따라서 다양한 종류의 반도체 소자들의 시험을 위해서는 존의 수가 많도록 시스템을 구성하는 것이 필요하다. 번인 시험 시스템의 존을 제어하는 존 컨트롤러는 번인 시험을 수행하고 결과를 수집하는 장치이다. 기존 시스템의 경우, 각 존 컨트롤러는 일정 수의 슬롯들로 구성된 한 존의 시험을 담당한다. 대개의 경우, 존 컨트롤러는 시스템을 제어하는 한 워크스테이션 내에 내장되어 있으므로 이들을 추가하려면 물리적 공간의 제약을 받는다. 이런 문제들의 해결을 위한 한 방법으로서, 본 논문은 존의 슬롯 수를 동적으로 할당할 수 있는 동적 존 시스템을 제안한다. 동적 존 시스템은 존의 슬롯 수를 가변시켜 빈 슬롯을 최소화함으로써 시스템의 운영 효율을 극대화한다. 또한 기존 시스템의 경우에는 정비를 위해 진행 중인 시험을 모두 중지시켜야 하지만, 동적 존 시스템의 경우에는 시스템에 전력을 공급하는 주 전원이 문제가 되지 않는다면 한 슬롯씩 개별적인 유지보수가 가능하다.

목차

요약
1. 서론
2. 관련연구
3. 동적 존 할당 시스템 모델
4. 구성 프로그램과 시스템 동작
5. 성능 평가
6. 결론
[참고문헌]

참고문헌 (0)

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