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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.11
- 수록면
- 30 - 36 (7page)
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최근의 메모리 반도체에 있어서, 수율과 품질을 유지하기 위하여 불량셀은 반드시 수리가 필요하다. 대부분의 워드단위 입출력을 갖는 system-on-chip (SoC)를 포함한 많은 메모리가 다중 블록으로 구성되어 있음에도 불구하고, 기존의 대부분의 자체내장수리연산회로의 연구들은 단일블록을 대상으로 하였다. 워드 단위 입출력 메모리의 특성상 다중메모리 광역대체수리구조를 갖는 경우가 많다. 본 논문에서는 이러한 메모리를 대상으로 기존에 최적 수리효율을 갖는 대표적인 자체내장 수리연산 회로인 CRESTA를 기본으로 하여, 보다 적은 면적으로 최적 수리효율을 낼 수 있는 알고리즘과 연산회로을 제안한다. 제안하는 자체내장수리 회로는 단위블록의 연산결과를 순차적으로 비교하여 워드단위 메모리의 제약조건을 만족시키는 최종 수리해를 구해내며, 기존의 회로보다 훨씬 빠른 시간 내에 최적의 수리 해를 구해 낼 수 있다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 다중 블록 메모리의 수리연산
Ⅲ. 제안하는 수리연산회로
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (6)
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1. [학술대회논문] - T.Kawagoe / 2000 / A built-in self repair analyzer(CRESTA)for embedded DRAMs / in Proc.International Test Conference,pp.567-574,Oct : 567 ~ 574
2. [학술지(정기간행물)] - C.-T.Huang / 2003 / Built-in Redundancy Analysis for Memory Yield Improvement / IEEE Trans.Reliability 25 : 386 ~ 399
3. [학술대회논문] - P. Öhler / 2007 / An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy / Proc. European Test Symposium (ETS) : 91 ~ 96
4. [학술지(정기간행물)] - W.Jeong / 2009 / A Fast Built-in Redundancy Analysis for Memories With Optimal Repair Rate Using a Line-Based Search Tree / IEEE Trans.Very Large Scale Integration(VLSI)systems 17 : 1665 ~ 1678
5. [학술대회논문] - W. Jeong / 2009 / An Advanced BIRA Using Parallel Sub-analyzers for Embedded Memories / Proceedings of International SOC Design Conference : 249 ~ 252
2. [학술지(정기간행물)] - C.-T.Huang / 2003 / Built-in Redundancy Analysis for Memory Yield Improvement / IEEE Trans.Reliability 25 : 386 ~ 399
3. [학술대회논문] - P. Öhler / 2007 / An Integrated Built-in Test and Repair Approach for Memories with 2D Redundancy / Proc. European Test Symposium (ETS) : 91 ~ 96
4. [학술지(정기간행물)] - W.Jeong / 2009 / A Fast Built-in Redundancy Analysis for Memories With Optimal Repair Rate Using a Line-Based Search Tree / IEEE Trans.Very Large Scale Integration(VLSI)systems 17 : 1665 ~ 1678
5. [학술대회논문] - W. Jeong / 2009 / An Advanced BIRA Using Parallel Sub-analyzers for Embedded Memories / Proceedings of International SOC Design Conference : 249 ~ 252
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