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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.11
- 수록면
- 55 - 60 (6page)
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분압 방식으로 써미스터의 온도에 따른 저항 변화를 전압 변화로 바꾸어 온도를 측정할 경우, 분압 저항 값은 ADC(Analog to Digital Converter) 단계 당 해상도에 크게 영향을 미친다. 본 논문에서는 주어진 온도 집합에 대하여 최적 평균 해상도를 얻기 위한 분압 저항을 결정하는 방법을 제시한다. 네 가지 상용 NTC 써미스터에 대하여 제안한 방법으로 최적의 분압 저항 값을 구하고, 최적화된 저항 값으로 선정하지 않았을 경우에 평균 해상도에 미치는 영향을 조사하였다. 시뮬레이션 결과 온도 집합의 최대 온도에 해당하는 써미스터 저항 값을 분압 저항으로 선정할 경우, 해상도가 최대 2.6배 까지 나빠질 수 있음을 보였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 주어진 온도 집합에 대하여 평균 해상도를 최소화하는 분압 저항
Ⅲ. 시뮬레이션 및 결과
Ⅳ. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개
참고문헌 (12)
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1. [학술대회논문] - H.-G. Schweiger / 2007 / Fast multichannel precision thermometer / IEEE T. Instrum. Meas : 2002 ~ 2009
2. [학술지(정기간행물)] - V. Maric / 2008 / EM simulator analysis of optimal performance thick-film segmented thermistors versus material characteristics selection / IEEE T. Instrum. Meas 57 : 2568 ~ 2575
3. [학술지(정기간행물)] - C.Chen / 2009 / Evaluation of resistance–temperature calibration equations for NTC thermistors / Measurement 42 : 1103 ~ 1111
4. [학술지(정기간행물)] - A.A.Khan / 1985 / An improved linear temperature/voltage converter using thermistor in logarithmic network / IEEE T. Instrum. Meas IM-34 : 635 ~ 638
5. [학술지(정기간행물)] - Z.Z. Nenova / 1985 / Linearization Circuit of the Thermistor Connection / IEEE T. Instrum. Meas 58 : 441 ~ 449
2. [학술지(정기간행물)] - V. Maric / 2008 / EM simulator analysis of optimal performance thick-film segmented thermistors versus material characteristics selection / IEEE T. Instrum. Meas 57 : 2568 ~ 2575
3. [학술지(정기간행물)] - C.Chen / 2009 / Evaluation of resistance–temperature calibration equations for NTC thermistors / Measurement 42 : 1103 ~ 1111
4. [학술지(정기간행물)] - A.A.Khan / 1985 / An improved linear temperature/voltage converter using thermistor in logarithmic network / IEEE T. Instrum. Meas IM-34 : 635 ~ 638
5. [학술지(정기간행물)] - Z.Z. Nenova / 1985 / Linearization Circuit of the Thermistor Connection / IEEE T. Instrum. Meas 58 : 441 ~ 449
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