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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김병준 (대구경북과학기술연구원) 서인호 (한국과학기술원) 곽성우 (계명대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제59권 제2호
발행연도
2010.2
수록면
417 - 422 (6page)

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When memory devices are exposed to space environments, they suffer various effects such as SEU(Single Event Upset). Memory systems for space applications are generally equipped with error detection and correction(EDAC) logics against SEUs. In this paper, several error detection and correction codes - RS(10,8) code, (7,4) Hamming code and (16,8) code - are analyzed and compared with each other. Each code is implemented using VHDL and its performances(encoding/decoding speed, required memory size) are compared. Also the failure probability equation of each EDAC code is derived, and the probability value is analyzed for various occurrence rates of SEUs which the STSAT-3 possibly suffers. Finally, the EDAC algorithm for STSAT-3 is determined based on the comparison results.

목차

Abstract
1. 서론
2. 오류 복구 코드에 대한 오류 확률 해석
3. 오류복구 코드의 비교 및 분석
4. 결론
감사의 글
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