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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
황선묵 (인하대학교) 홍주일 (인하대학교) 허창수 (인하대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제59권 제2호
발행연도
2010.2
수록면
369 - 373 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

2016

고줄력 전자기펄스에 의한 마이크로컨트롤러 소자의 민감성 분석
황선묵 ,  허창수 ,  최진수 대한전기학회 학술대회 논문집 2016.07 학술대회자료

2012

금속 함체내부로 입사되는 고출력 전자기 펄스에 대한 전자회로의 민감성 분석
황선묵 ,  권해옥 ,  허창수 외 1명 전기학회논문지 2012.12 학술저널

2010

광대역 고출력 전자기 펄스에 의한 마이크로컨트롤러 소자의 매개변수들의 민감성 분석
황선묵 ,  홍주일 ,  허창수 전기학회논문지 2010.02 학술저널

2008

고출력 전자기 펄스에 따른 PC 시스템의 민감성 분석
황선묵 ,  홍주일 ,  한승문 외 3명 대한전기학회 학술대회 논문집 2008.07 학술대회자료

초록· 키워드

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Modern electronic circuits are of importance for the function of communication, traffic systems and security systems. An intentional threat to these systems could be of big casualties and economic disasters. This paper has shown damage effect of microcontroller device with coupling caused by UWB-HPEM(Ultra Wideband-High Power Electromagnetics). The UWB measurements were done at an Anechoic Chamber using a RADAN UWB voltage source, which can generate a transient impulse of about 180 ㎸. The susceptibility level for microcontroller has been assessed by effect of various operation line lengths. The results of susceptibility analysis has showed that the effect of the reset line length on the MT(Malfunction Threshold) is larger than the effect of the different line length(Data, Power, Clock). With the knowledge of these parameters electronic system can be designed exactly suitable concerning the system requirements. Based on the results, susceptibility of microcontroller can be applied to protection plan to elucidate the effects of microwaves on electronic equipment.
#Susecptibility #UWB-HPEM #Microcontroller #MT

목차

Abstract
1. 서론
2. 본문
3. 결론
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