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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2007.11
- 수록면
- 136 - 137 (2page)
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The emission of external incident field or near device field is important factor of EMI and EMC. In this paper, we apply MOM, using the RWG basis function, to analysis the induced current distributio ... 전체 초록 보기
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