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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
李其南 鄭鴻倍 (광운대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 C 전기학회논문지 제55C권 제7호
발행연도
2006.7
수록면
354 - 358 (5page)

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In this paper, we investigated the selective etching rate of amorphous As-Ge-Se-S thin film due to the photoexpansion effect and fabricated the 2-dimensional embossing type diffraction grating hologram. We measured the thickness change with the etching time among NaOH solution after forming 1-dimension diffraction grating. As a results, we found that the selective etching rate were 2.5Å/s, 3.3Å/s, 3.9Å/s where NaOH solution concentration were 0.26N, 0.33N, 0.36N, respectively. Also after the formation of 2-dimensional diffraction grating by the 90° degree of circulation on the formed 1-dimensional diffraction grating, we etched selectively during 60sec, among 0.26N NaOH solution and obtained 2-dimensional embossing diffraction grating. As the r esults of AFM (Atomic Force Microscopy), we confirmed the formation of distinct embossing type 2-dimensional diffraction grating hologram, successfully.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 결과 및 고찰
4. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개

참고문헌 (8)

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