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목차
Abstract
1. 서론
2. 검사원리
3. PSA 기법에 근거한 고장검출회로 설계
4. 디지털 부품 검사전략 설계
5. 시뮬레이션 고찰
5. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개
참고문헌 (15)
참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - Jon Turino / 1984.09 / Functional Testing's Place In Electronics Manufacturing : 58 ~ 61
[학술지(정기간행물)] - Reynold / 1987.02 / In-Circuit McTesters ? or the Future of In- Circuit Test : 8 ~ 15
[학술지(정기간행물)] - Steve J Baker / 1984. / Analog-Component Faults Yield to In-Circuit Testing
[학술지(정기간행물)] - Peter Hansen / / Ensuring ASIC Testability at the Bo ard Level Tools and Strategies : 33 ~ 431987
[학술지(정기간행물)] - John J. Arena / 1989.05 / Calculating the Effective Pattern Rate for High-Speed Board Test Applications 36 (2) : 164 ~ 174
[학술지(정기간행물)] - Reynold / 1987.02 / In-Circuit McTesters ? or the Future of In- Circuit Test : 8 ~ 15
[학술지(정기간행물)] - Steve J Baker / 1984. / Analog-Component Faults Yield to In-Circuit Testing
[학술지(정기간행물)] - Peter Hansen / / Ensuring ASIC Testability at the Bo ard Level Tools and Strategies : 33 ~ 431987
[학술지(정기간행물)] - John J. Arena / 1989.05 / Calculating the Effective Pattern Rate for High-Speed Board Test Applications 36 (2) : 164 ~ 174
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