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논문 기본 정보

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저널정보
한국항공우주학회 한국항공우주학회지 韓國航空宇宙學會誌 第34卷 第11號
발행연도
2006.11
수록면
84 - 91 (8page)

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최근에 인공위성용 전자소자는 우주방사선에 좀 더 강한 소자를 요구되어진다. 왜냐하면, 인공위성의 수명과 기능은 우주방사선으로부터 영향을 받기 때문이다. 또한, 과거에는 부품단위의 우주방사선 시험을 수행하지 않고 유닛 또는 서브시스템 단위의 우주방사선 시험을 수행하였다. 게다가, 발사된 인공위성이 작동오류 상태에 있을 때 그 이유를 분석하기에는 그다지 쉬운 일은 아니다. 따라서, 발사 전 부품 단위 우주방사선 시험을 수행하여 주요 소자에 대한 우주방사선에 의한 영향을 분석 할 필요가 있으며, 지상에서 데이터를 확보할 필요가 있다. 그러므로, 본 논문에서는 모든 전자소자의 기본이라 할 수 있는 금속-산화막 반도체 전계효과 트랜지스터의 총이온화선량에 대한 영향 시험을 수행하기 위한 테스트 베드를 제안한다.

목차

ABSTRACT
초록
Ⅰ. 서론
Ⅱ. MOSFET 구조 및 동작특성
Ⅲ. 우주방사선에 의한 산화막 영향
Ⅳ. 총 이온화선량 측정을 위한 벤치에서의 시험환경
Ⅴ. 실험결과
Ⅵ. 결론
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