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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국표면공학회 한국표면공학회지 한국표면공학회지 제37권 제3호
발행연도
2004.6
수록면
175 - 178 (4page)

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The size and number of nano-size defects of thin trivalent chrome layers were determined by small angle neutron scattering (SANS) without breaking the thin chrome layers. Most of defect size of the trivalent chromium prepared in this test conditions is in the range of about 40 ㎚. The number of nano-size defects less than about 40 ㎚ of the trivalent chromium layer increases with plating voltage at constant current density. From this study, SANS is proved as one of useful techniques to evaluate nano-size defects of thin film layer.
#Chromium-carbon #Trivalent chromium bath #Small angle neutron scattering

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험방법
3. 실험결과 및 고찰
4. 결론
감사의 글
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