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한국동력기계공학회 한국동력기계공학회 학술대회 논문집 2004年度 秋季學術大會 論文集
발행연도
2004.12
수록면
197 - 202 (6page)

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The opening test of a filament is very important for the reliability of fluorescent lamps. Two types of accelerated stress tests are performed using fluorescent lamps(FL20SD/18) made in various companies. Failure mechanisms of filament in fluorescent lamps are investigated by the filament accelerated stress test and voltage accelerated stress test. Their characteristics are compared field data with accelerated stress test data. The failure sites of filament in fluorescent lamp were occurred at the middle part of filament due to radiant heat and the edge part of filament due to torsional stress caused by thermal stress. In the case of accelerated stress test, the filament accelerated stress test is better than the voltage accelerated stress test for the □reappearance of opening test in the filament.
#Fluorescent Lamp(형광램프) #Opening of Filament(필라멘트 단서) #Reliability(신뢰성) #Voltage accelerated stress test(전압 가속스트레스 시험) #Failure analysis(고장 분석)

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 결과 및 고찰
4. 결론
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