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저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2008년 하계종합학술대회
발행연도
2008.6
수록면
773 - 774 (2page)

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As an Embedded system get more complicated, the importance of the software test increases. Especially it is mandatory to test the embeded software for a charge degrade of the development company which is happened due to the error ... 전체 초록 보기

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론 및 향후 연구 방향
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