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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2006년도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2006.11
수록면
13 - 18 (6page)

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The flow of electrical current through a microscopic actual contact spot between two conductors is influenced by the flow through adjacent contact spots. A smoothed version of this interaction effect is developed and used to predict the contact resistance when the statistical size and spatial distribution of contact spots is known. To illustrate the use of the method, the Archard multiscale contact model is adopted to calculate the distribution of the contact spot and an electrical contact resistance. We compare the results of statistical approach with the results of deterministic approach. In the statistical approach, the statistical density function for the mean size of contact spots is estimated by kernel estimation. With these assumptions, it is shown that including finer scale detail in the fractal surface causes the predicted resistance to approach a finite limit.
#Electrical Contact Resistance(전기 접촉 저항) #Achard Contact Model(아차드 접촉모델) #Multiscale Analysis(다중스케일 해석) #Statistic Kernel Estimation(확률적 핵 추정방식)

목차

Abstract
1. 서론
2. Archard 접촉 모델
3. Greenwood식을 통한 전기 접촉 저항
4. 전기 접촉 저항
5. Base potential
6. 경계치 문제
7. 확률 밀도 추정을 통한 -h(ξ,η)함수
8. 결과
9. 결론
후기
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