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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용 정보과학회논문지 : 소프트웨어 및 응용 제34권 제5호
발행연도
2007.5
수록면
447 - 454 (8page)

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최근 TFT-LCD (Thin film transistor liquid crystal display)패널의 수요증가에 비례하여 공정상 발생하는 LCD 불량의 수도 증가하고 있다. LCD 불량은 배경화면과 미세한 밝기대비 차이를 가지는 패널상의 불균등한 영역으로서 크게 정형과 비정형으로 나누어지며 사람의 눈에 매끄럽지 않게 보여진다. 이러한 불량은 배경과의 대비 차이가 미세하여 기존의 임계수준 검출이나 윤곽선 검출로는 불량을 검출할 수 없다. 본 논문은 비정형 LCD 불량을 독립성분분석, 적응 임계수준 검출 그리고 왜도를 이용하여 검출하는 방법을 제시한다. 본 검출방법은 잡음이 심한 영상에 대해서도 대응력이 뛰어나며, 생산라인에서 성공적으로 적용된다.
#TFT-LCD #LCD 불량 #독립성분분석 #왜도 #LCD defect #Independent component analysis #skewness

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 관련연구
3. 독립성분분석을 이용한 데이타 학습
4. LCD 불량의 검출
5. 실험
6. 결론
참고문헌

참고문헌 (10)

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, , A survey on Independent Component Analysis google schola , 2000 , Independent Component Analysis: Algorithms and Applications : 411 ~ 430 google schola , 2002 , Digital Image Processing google schola , , Probability, random variables and random signal principles google schola , 2004.10 , Automatic Detection of Region-Mura Defect in TFT-LCD E87-D (10) : 2371 ~ 2378 google schola

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