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논문 기본 정보

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저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.7 No.1
발행연도
2007.3
수록면
43 - 50 (8page)

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In a high-speed flash style or a pipelining style analog-to-digital converter (A/D converter), the DC reference fluctuation caused by external noises becomes serious, as the sampling frequency is increased. To reduce the fluctuations in conventional A/D converters, capacitors have been simply used, but the layout area was large. Instead of capacitors, a low-noise and small-size DC reference circuit based on transmission gate (TG) is proposed in this paper. In order to verify the proposed technique, we designed and manufactured a 6-bit 2GSPS CMOS A/D converter. The A/D converter is designed with a 0.18㎛ 1-poly 6-metal n-well CMOS technology, and it consumes 145㎽ at 1.8V power supply. It occupies the chip area of 977㎛ by 1040㎛. The measured result shows that SNDR is 36.25 ㏈ and INL/DNL is within 0.5LSB, even though the DC reference fluctuation is serious.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. REFERENCE FLUCTUATION
Ⅲ. DESIGN OF THE PROPOSED CIRCUIT
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

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