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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
한국광학회 Current Optics and Photonics Journal of the Optical Society of Korea Vol.10 No.4
발행연도
2006.12
수록면
188 - 195 (8page)

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Third harmonic generation microscopy is described in the frame work of the theory of harmonic generation with Gaussian focused beams inside a bulk material as well as at the vicinity of an interface. This model is then applied to characterize different types of materials in terms of electronic third-order susceptibility. Examples of bulk glasses, poled glasses, laser-induced modifications in glasses and nanoparticles in solution are given in order to give a survey of the broad application field of THG microscopy in material characterization.

목차

Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. THEORY
Ⅲ. EXPERIMENT
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSION
ACKNOWLEDGEMENTS
REFERENCES

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