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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제2호
발행연도
2006.2
수록면
18 - 23 (6page)

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본 논문에서는 실리콘 상의 2층 실리카 도파로에서 새로운 고유치 방정식을 도출하여, 프리즘 커플러로 굴절률과 박막의 두께를 결정하는 방법을 나타내었다. 도출된 고유치 방정식의 알고리즘은 반복 파라메터가 4개의 변수에서 3개의 변수로 감소되어질 수 있으므로 Ref.[5]의 방정식의 해보다 보다 좋은 장점을 갖으며. 또한 본 논문에 얻어진 평균 에러는 약 10^(-5)~10^(-6) 이하였다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 이론

Ⅲ. 고유방정식 유도

Ⅳ. 에러체크

Ⅴ. 프리즘 커플러에 개선된 알고리즘 적용

Ⅵ. 결론

참고문헌

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