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본 논문에서는 원형 대칭 광 시스템에 대한 초점 심도를 증가시키기 위해 Wigner 분포 함수(WDF)로 유도된 위상 지연 함수를 이용한다. 1차원 신호에 대한 WDF는 위상-공간(χ, ζ) 상의 2차원 함수로 표현되고 Strehl 비(SR)를 이용해 정규화된 복사조도로 나타낸다. 초점 심도의 증가는 WDF 공간상에서 간단한 조작으로 자유 공간 전파의 특성을 나타내는 전단 기울기 α을 부여함으로서 달성된다. 또한 α을 초점 심도의 항 δ₂로 표현함으로서 위상 지연 함수를 통해 정량적으로 초점특성을 평가할 수 있는 방법을 제안한다. 제안된 방법으로 수치 해석한 결과를 다른 접근법으로 수행되었던 연구결과와 비교한다.
목차
국문초록
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Wigner 분포 함수와 Strehl 비의 관계
Ⅲ. 초점 심도의 항으로 표현된 위상 지연 함수
Ⅳ. 수치 해석 및 결과 비교
Ⅴ. 결론
참고문헌
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