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1. 서론
2. 원리 및 이론
3. 장치
4. 분석 및 응용
참고문헌
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ESCA에 의한 화학결합상태 분석의 이해와 문제점
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Applications of Ar Gas Cluster Ion Beam Sputtering to Ta₂O5 thin films on SiO₂/Si (100)
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[총설]측정분석 정도관리 향상 방안
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Analysis of corrosion on the Al(Cu 1%) surface using XPS
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1997 .02
방사광을 이용한 표면분석 기술: XPS
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[총설]ICP-MS의 기초와 응용
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Current Problems in the Quantization of the XPS
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1996 .02
XPS를 이용한 Co / Si(100)의 계면반응
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1998 .07
The xps study of the Cu-Zn nanofiber
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2015 .08
Characterization of In₂O₃ Films by AES and XPS
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1993 .07
Application of Numerical Method to Angle - Resolved XPS Data
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1996 .02
GaAs (110) 표면의 산화과정에 대한 XPS와 XPD 분석
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1992 .02
XPS study of high - Tc superconductors
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1996 .02
[총설]고성능 액체 크로마토그래피(HPLC)의 원리 및 응용
분석과학
1993 .10
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