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파장분산형 엑스선분광분석기에 의한 Xe의 전자탐침미세분석시 표준물질에 대해 기술하였다. 실험결과 순수금속 표준시편을 사용할 수 없는 Cs, I, Ba의 표준물질로는 Csl와 BaCO₃가 가장 적당한 것으로 나타났다. 빔전류량 10-30㎁에서 Csl,CsBr로부터 측정한 Cs의 엑스선 세기는 빔전류량에 비례하였다. PET 결정 사용시 In-Nd원소들의 원자번호 대 엑스선 세기간의 직선성은 가속전압 25-3O㎸ 범위에서 직선회귀 계수 R=0.99 이상의 좋은 상관성을 보였다. 직선회귀식으로 구한 Xe의 엑스선 세기 표준값은 가속전압 25㎸에서 Te의 엑스선 세기 표준값 보다 1.095배 높게 나타났다.
목차
요 약
Abstract
1. 서 론
2. 실 험
3. 결과 및 고찰
4. 결 론
참고문헌
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