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한국분석과학회 분석과학 분석과학 제13권 제1호
발행연도
2000.2
수록면
66 - 71 (6page)

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수화된 코발트에 도데칸술폰이 층간 삽입된 화합물을 합성하였다 고온 X-선 회절 데이터를 분석한 결과 화합물은 층상구조를 가짐을 확인하였다. 층 거리는 30℃에서 200℃로 증가함에 따라서 19.1Å에서 347Å까지 변하는 것을 확인하였다. 화합물의 온도를 증가시키면 층간 삽입된 도데칸술폰이 단일 층에서 이중 층구조로 변화가 생긴다. 따라서 온도를 변화시키면서 층상화합물의 층 거리를 조절할 수 있게 됨을 확인하였다.

목차

요 약

Abstract

1. 서 론

2. 실 험

3. 결과 및 고찰

4. 결 론

참고문헌

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