Conversion from SIMS depth profiling to compositional depth profiling of multi-layer films

Jong Shik Jang ,  Hye Hyen Hwang ,  Hee Jae Kang 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2011 .02

Standardization of the Evaluation of SIMS Depth Resolution by a Standard Procedure and Multiple Delta - Layer Thin Films

Kyung Joong Kim ,  H. K. Kim ,  D. W. Moon

한국진공학회 학술발표회초록집

2003 .02

Calibration of SIMS Depth Scale using a B-doped Si Multiple Delta-Layer CRM

Kyung Joong Kim ,  David Simons

한국진공학회 학술발표회초록집

2006 .02

A Study on the Effects of Gadolinium dopping on the Coercivity of Permalloy Film

Jong-hyun Pa ,  k ,  Woojin Kim 외 1명

한국자기학회 학술연구발표회 논문개요집

2003 .12

Decision of Interface and Depth Scale Calibration of Multilayer Films by SIMS Depth Profiling

Hye Hyun Hwang ,  Jong Shik Jang ,  Hee Jae Kang 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2012 .02

Delta Doped Multi Si Layer의 SIMS 깊이 분해능 연구

원정연 ,  강희재 ,  김경중 외 2명

한국진공학회 학술발표회초록집

1998 .07

Compositional SIMS Depth Profiling of CIGS film

김경중 ,  황혜현 ,  장종식 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2011 .02

TOF-SIMS의 Depth Profiling을 이용한 금속의 정량분석

임원철 ,  이지혜 ,  이연희

한국분석과학회 학술대회

2009 .05

Determination of Layer Thickness of A/B Type Multilayer Films in SIMS Depth Profiling Analysis

Hyun Hye Hwang ,  Jong Shik Jang ,  Hee Jae Kang 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2012 .08

TOF-SIMS Depth profile의 Sputtering rate를 통한 재질 연구

홍주익 ,  김지수 ,  이석열 외 2명

한국분석과학회 학술대회

2008 .11

Quantification of Cu(In_xGa_1-x)Se₂ Solar Cell by SIMS

Jong Shik Jang ,  Hye Hyen Hwang ,  Hee Jae Kang 외 7명

한국진공학회 학술발표회초록집

2012 .02

Oxygen flooding에 의해 왜곡된 SIMS depth profile의 보정

이영진 ,  정칠성 ,  윤명노 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2000 .07

고 농도 대역에 Pre-Sputtering 방법 적용을 통한 High Dynamic Range SIMS Depth Profiling 구현

박상원 ,  김종훈 ,  고중규 외 2명

한국진공학회 학술발표회초록집

2007 .08

한국산 왕송이버섯의 인공재배 (I) - 자실체 형태적 특징과 발생지 환경조사 -

김한경 ,  김양섭 ,  석순자 외 2명

한국균학회지

1998 .01

A stable solid state quantum dot sensitized solar cell with p-type CuSCN semiconductor and its dopping effect

김희진 ,  설민수 ,  용기중

한국진공학회 학술발표회초록집

2011 .02

Ta₂O5 / SiO₂ Multilayered Thin Film on Si as a New Reference Material for SIMS Depth Profiling

Kyung Joong Kim ,  Dae Won Moon

한국진공학회 학술발표회초록집

1997 .02

FUZZY δ-TOPOLOGY AND COMPACTNESS

이석종 ,  윤상민

대한수학회논문집

2012 .01

A Study on Impurity Depth Profile by Secondary Ion Mass Spectrometer

Mi ,  ang Byoen ,  Da Yung Kim 외 1명

한국진공학회 학술발표회초록집

2020 .08

ON STRICT EXTENSIONS OF STRONG δ-FRAMES

Lee ,  Seung On ,  Choi 외 1명

충청수학회지

2000 .01

ON δ-FRAMES

Lee ,  Seung On ,  Lee 외 3명

충청수학회지

1997 .01