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기존의 특징점 추출 알고리즘들은 입력 지문의 전처리, 이미지의 이진화, 세선화, 특징점 추출 등의 여러 처리 단계를 거쳐 이루어지므로 잡음등과 같은 외부적 요인과 여러 처리단계에서 발생하는 내부적 요인 등으로 왜곡 현상을 피하기 어렵고 전체 인증 시간이 길어 지는 등 성능 저해 ... 전체 초록 보기

목차

요약

1. 서론

2. 자동 지문 인식 시스템

3. 실험 및 결과

4. 결론 및 향후 연구 과제

참고 문헌

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