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저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers (구)정보과학회논문지 정보과학회논문지 제21권 제5호
발행연도
1994.5
수록면
768 - 782 (15page)

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본 연구에서는 원형입자들이 불규칙하게 분포되어 있는 영상을 분석하기 위한 방법으로 문턱치 선형중첩 이론을 적용한 형태론적 입자인식 알고리즘을 제안하였다. 본 연구에서 제안된 방법에서는 입자영역과 배경영역을 분할하여 연산시간을 감소시켰으며, 조건부 골격을 이용하여 입자의 겹침문제를 해결하였다. 또한 Hit or Miss 변환과 Dilation 연산으로 구성소와 모양이 같지 않은 입자의 인식을 수행하였다. 그리고 덱스춰 사진첩에서 취득한 영상을 사용하여 행한 설험을 통하여 입자 크기와 위치의 식별이 가능하다는 것을 보였다.

목차

요약

ABSTRACT

1. 서론

2. 문턱치 선형중첩 이론

3. 알고리즘

4. 실험

5. 결론

참고문헌

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