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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- Korean Institute of Information Scientists and Engineers Journal of Electrical Engineering and Information Science Journal of Electrical Engineering and Information Science Vol.2 No.6
- 발행연도
- 1997.10
- 수록면
- 43 - 47 (5page)
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A procedure presented in this paper generates test sequences to check the conformity of an implementation with a protocol specification, which is modeled as a deterministic finite state machine (FSM). Given a FSM, a common procedure of test sequence generation, first, constructs a directed graph which edges include the state check after each transition, and produces a symmetric graph G* from and, finally, finds a Euler tour of G*. We propose a technique to determine a minimum-cost tour of the transition graph of the FSM. The proposed technique using Multiple Unique State Signature (MUSS) solves an open issue that one MUIO sequence assignment may lead to two more edges of unit cost being replicated to form G* while an optimal assignment may lead to the replication of a single edge of high cost. In this paper, randomly generated FSMs have been studied as test cases. The result shows that the proposed technique saves the cost 4~28% and 2~21% over the previous approach using MUIO and MUSP, respectively.
목차
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Previous Works on the UIO-Method
Ⅲ. Proposed Method Using MUSS
Ⅳ. Simulation Results
Ⅴ. Conclusions
References
저자소개
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