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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지(C) 정보과학회논문지(C) 제3권 제1호
발행연도
1997.2
수록면
98 - 105 (8page)

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본 연구에서는 안티-퓨즈의 두 전극 층사이의 절연막 또는 유전막을 파괴하여 도통케하는 퓨징 기술을 위한 장치를 개발하여 소자를 퓨징시킨 다음 안티-퓨즈 스위칭 소자의 특성을 측정하고 분석하였다. 또한 FPGA 회사인 미국Actel 및 QuickLogic 사의 안티-퓨즈 특성과 ETRI 안티-퓨즈를 분석하여 그결과를 비교하였다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 안티 - 퓨즈 특성 측정 장치

3. 실험 결과 및 분석

4. 결론

참고문헌

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