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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 정보과학회논문지(A) 정보과학회논문지(A) 제26권 제2호
발행연도
1999.2
수록면
232 - 241 (10page)

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기존의 연구는 FSM을 기본으로 제어흐름만을 분석하거나 시험목적을 시험열 생성 단계에서 고려하지 않음으로써 시험열의 실제 적용에 있어 많은 문제점을 갖는다. 따라서 이 연구에서는 SDL로 기술된 프로토콜 명세서를 시맨틱 모델인 LTS로 변환 후 LTS로부터 서브투어를 트리 형태로 생성하고, 여기에 시험목적을 사상시켜 서브투어 단위로 시험열을 생성하였다. 그리고 생성된 시험열을 TTCN으로 변환하고 단위 테스트를 위한 추가 정보로서 프리앰블, 포스트앰블, 리셋 정보등을 LTS로부터 생성하였다. 또한 LTS로부터 한 노드에서 전이 가능한 모든 경로를 트리로 표현함으로써 향상된 테스트 커버리지를 갖는 서브투어를 생성하였으며 SDL을 시맨틱 모델인 LTS로의 변환 또한 기존의 입력과 출력만을 고려하는 FSM에서 발생하는 비결정성 문제를 해결할 수 있다. 따라서 이 연구에서의 테스트 목적이 고려된 TTCN 표현의 테스트 케이스 생성은 적합성 시험을 위한 테스트 케이스의 실제 적용 및 프로토콜 구현의 생산성을 높일 수 있으며 테스팅 환경의 기반을 제공한다.

목차

요약

Abstract

1. Introduction

2. Generation of test suite with test purpose

3. An example

4. Results analysis

5. Conclusion

Reference

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017742604