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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
대한기계학회 Journal of Mechanical Science and Technology KSME International Journal Vol.18 No.4
발행연도
2004.4
수록면
640 - 648 (9page)

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This paper describes a new magnetization method for non-destructive testing with magneto-optical sensor (denoted as MO sensor) which have the following characteristic; high observation sensitivity, independence of the crack orientation. and precise imaging of a complex crack geometry such as multiple cracks. When a magnetic field is applied normally to the surface of a specimen which is significantly larger than its defects, approximately the same magnetic charge per unit area occurs on the surface of the specimen. If there is a crack in the specimen. magnetic charge per unit area has the same value at the bottom of the crack. The distribution of the vertical component of the magnetic !lux density. Bz. is almost uniform over the no-crack area (denoted as Bz,??). while the magnetic !lux density is smaller in the surroundings of the crack (denoted as Bz,??). If Bz,BASE is a bit larger than the saturated magnetic !lux density of the MO sensor (Bs). then small magnetic domains occur over the crack area and a large domain over the non-crack area because Bz,?? is smaller than Bs.

목차

Abstract

1. Introduction

2. Theoretic Discussion on Leakage Magnetic Flux

3. Specimens and Magnetizer

4. Results and Discussion

5. Conclusion

References

참고문헌 (11)

참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - / 1993 / Magneto-Optic/Eddy Current Imaging of Aging Aircraft 51 (12) : 1402 ~ 1407 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1996 / Advanced Magnetic Flux Leakage Testing System Using Magneto-Optical Film 45 (4) : 283 ~ 289 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1999a / Developtment of a NDI System using the Magneto-Optical Method Development of the Magneto-Optical Inspection System 48 (3) : 165 ~ 171 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1999b / Development of a NDI System using the Magneto-Optical Method 48 (4) : 231 ~ 236 google schola [학술지(정기간행물)] - / 1998 / Electromagnetic Nondestructive Evaluation : 49 ~ 57 google schola

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-014052893