CMOS 집적회로의 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류감지 회로의 설계

홍승호 ,  김정범

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

CMOS 집적회로의 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류감지 회로의 설계

홍승호 ,  김정범

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

CMOS 회로의 전류 테스팅를 위한 내장형 전류감지기 설계 ( Design of a Built-in Current Sensor for Current Testing Method in CMOS VLSI )

김강철 ,  한석붕

전자공학회논문지-B

1995 .11

혼합유도체의 절선파괴전압

정성계

전기의세계

1962 .11

합선 또는 단락현상이 발화원인의 대종

김대영

방재와 보험

1987 .01

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

4. D-Algorithm에 의한 다치논리 회로의 결함해석

김종렬 ,  김종상

대한전자공학회 학술대회

1981 .08

D-Algorithm에 의한 다치논리 회로의 결함해석

김종렬 ,  김종상

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

전류 태스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석 ( Fault Analysis of CMOS Ics using Current Testing Technique )

한석붕 ,  김영일 ,  이건기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

CMOS를 이용한 연산증폭기의 회로 해석 및 설계 ( A Study on the Analysis and Design of Operation Application by Using CMOS )

강희조 ,  이주환 ,  김길상 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

내장 전류계를 이용한 CMOS 회로의 전류 테스팅

장태환 ,  홍성제 ,  김종

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

내장 전류계를 이용한 CMOS 회로의 전류 테스팅 ( VLSI Current Testing Using Built-In Current Sensor )

장태환 ,  홍성제 ,  김종

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

오프셋 전압을 이용한 CMOS 연산 증폭기의 새로운 테스팅 기법 ( Novel Testing Method of CMOS Operation Amplifier Using Offset Voltage )

한석붕 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

오프셋 전압을 이용한 CMOS 연산 증폭기의 새로운 테스팅 기법

한석붕 ,  윤원효 ,  김윤도 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

오프셋 전압을 이용한 CMOS 연산증폭기의 테스팅 ( Testing of CMOS Operational Amplifier Using Offset Voltage )

송근호 ,  김강철 ,  한석붕

전자공학회논문지-SD

2001 .01

CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )

장영조 ,  이철동

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )

장영조 ,  이철동

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

“소프트웨어 품질 및 테스팅”특집을 내면서

김문주

정보과학회지

2013 .05

압전 진동 에너지 하베스팅

손정우 ,  김기우 ,  이영준 외 2명

소음·진동

2016 .01