1μm 이하의 채널 길이를 가지는 P-MOSFET의 특성 개선에 관한 연구 ( Study on the Improvement of Sub-Micron Channel P-MOSFET )

박영준

전자공학회논문지

1987 .05

The Characterizing Analysis of a Buried-Channel MOSFET based on the 3-D Numerical Simulation

Man-Ho Kim ,  Jongsoo Kim

Journal of Electrical Engineering & Technology

2007 .06

Short Channel Effect 극복을 위한 Sub-micron Grooved Gate MOSFET

홍재희 ,  이종원 ,  손상희

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

Buried-Oxide MOSFET 제작 ( Fabrication of a Buried-Oxide Mosfet )

오춘식 ,  김충기 ,  경종민

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화

이재성 ,  이원규

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

게이트와 n￣ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n ￣ channel MOSFET with Gate - n￣ S/D Overlapped Structure )

이대우 ,  이우일

전자공학회논문지-A

1993 .02

Short-Channel MOSFET의 해석적 모델링 ( Analytical Modeling for the short-channel MOSFET )

홍순석

한국통신학회논문지

1992 .11

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

전력 MOSFET

崔然益

전기의세계

1985 .05

Si_1-xGe_x p-MOSFET 단채널효과의 해석학적 모델

남성진 ,  정윤하

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

짧은 채널 MOSFET에서의 이동도 감쇠 매개 인자 ( Mobility Reduction Parameters in Short Channel MOSFETs )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

Hot Electron Degradation via Hot Hole Injection in Submicron Buried-Channel LDD P-MOSFET`s

Hyung J. Lee ,  Gyu Han Yoon ,  Lee Yeun Hwang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

Short-Channel MOSFET의 전류-전압 특성 모델에 관한 연구 ( A Study on the Model of Current-Voltage Characteristics for Short-Channel MOSFET )

박광민 ,  김홍배 ,  곽계달

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

매몰된 island 구조를 갖는 SOI MOSFET 소자의 제안

이호준 ,  김충기

대한전기학회 학술대회 논문집

1992 .07

유효 채널길이를 고려한 n형 단채널 MOSFET의 문턱전압 모형화 ( Threshold Voltage Modeling of an n-type Short Channel MOSFET Using the Effective Channel Length )

김능연 ,  박봉임 ,  서정하

전자공학회논문지-T

1999 .06

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02