MOSFET 에서 Steady - State Nyquist 정리의 실험적 검증 ( Experimental Verification of Steady - State Nyquist Theorem in MOSFETs )

송두헌 ,  민홍식 ,  박영준

전자공학회논문지-A

1994 .10

“Thick-Path” Monte Carlo Method

Lee ,  Myung Woo

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2011 .05

MONTE-CARLO 방법을 이용한 2-DEG 전달특성 분석 ( TRANSPORT CHARACTERISTICS ANALYSIS BY MONTE-CARLO METHOD )

남승현 ,  정학기 ,  이문기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .01

Nyquist율 펄스전송에 관한 고찰 ( On Nyquist-Rate Pulse Transmission )

김대영 ,  김재균

대한전자공학회 학술대회

1982 .09

Nyquist율 펄스전송에 관한 고찰

김대영 ,  김재균

대한전자공학회 학술대회

1982 .09

다단자 반도체 소자에서의 Steady-state Nyquist 정리를 이용한 FET의 최소 잡음 지수 모델링

이정배 ,  민홍식 ,  박영준

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

다단자 반도체 소자에서의 Steady-state Nyquist 정리를 이용한 FET의 최소 잡음 지수 모델링 ( Modeling of the Minimum Noise Figure of FETs using the Steady-state Nyquist Theorem for Multi-terminal Semiconductor Devices )

이정배 ,  민홍식 ,  박영준

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Nyquist 선도에 의한 개선된 모델 축소 알고리즘

조준호 ,  최정내 ,  황형수

대한전기학회 학술대회 논문집

2001 .11

Nyquist 선도에 의한 개선된 모델 축소 알고리즘

조준호 ,  최정내 ,  황형수

대한전기학회 학술대회 논문집

2001 .11

Monte-Carlo 시뮬레이션을 이용한 캘리브레이션 데이터의 오차해석

안일혁 ,  황지홍 ,  최우천

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2010 .05

화력기 운전 특성을 고려한 Monte Carlo 발전시뮬레이션

차준민 ,  오광해 ,  송길영

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

Monte-Carlo 시뮬레이션 기반 Power Curve의 전력변환 오차 개선에 관한 연구

윤은정 ,  허진 ,  정솔영 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

2019 .07

Monte Carlo Simulation기법을 이용한 송전계통의 신뢰도 평가

문승필 ,  김홍식 ,  최재석 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2001 .05

다단자 반도체 소자에서의 steady - state Nyquist 정리를 이용한 FET 의 최소 잡음 지수 및 최적 소오스 임피던스 모델링 ( Modeling of the Minimum Noise Figure and the Optimum Source Impedance of FETs using the Steady - state Nyquist Theorem for Multi - terminal Semiconductor Devices )

이정배 ,  민홍식 ,  박영준

전자공학회논문지-A

1995 .03

주파수 영역에서 Nyquist 선도를 이용한 모델 축소

조준호 ,  김정철 ,  김진권 외 2명

제어로봇시스템학회 논문지

2002 .06

몬테-카를로(Monte-Carlo) 방법을 적용한 시스템 양립성 분석

김영환 ,  어필선 ,  양훈기 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2005 .11

표준태풍 생성을 위한 Monte-Carlo 시뮬레이션

김양선 ,  강주환 ,  조지우 외 1명

대한토목학회 학술대회

2015 .10

Monte-Carlo 시뮬레이션을 이용한 확률적 차량동역학 해석

전형호 ,  탁태오

한국자동차공학회 춘 추계 학술대회 논문집

2003 .05

Calculation of Correlations Between the Thermal Noise sources in intrinsic and Parasitic Parts of Semiconductor Devices using the Steady-State Nyquist theorem

O. G. La ,  H. S. Min ,  Y. J. Pa 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01