S-파라미터 측정을 통한 MOSFET의 고온 종속 내부 모델 파라미터 추출

정대현 ,  고봉혁 ,  이성현

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

Efficient Design of MOSFET for Noise Improvement

Sang Bae Lee ,  Kyun Hyon Tchah

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1988 .01

전력 MOSFET

崔然益

전기의세계

1985 .05

Low Frequency Noise Characteristics of the 180㎚ MOSFETs

Youngchang Yoon ,  Hocheol Lee ,  In Man Kang 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2005 .11

소신호 MOSFET 등가회로의 기판 파라미터 직접 추출 방법

이현준 ,  이성현

대한전자공학회 학술대회

2012 .06

S-파라미터 측정을 통한 MOSFET의 고온 종속 내부 모델 파라미터 추출

정대현 ,  고봉혁 ,  이성현

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

MOSFET의 1/F 잡음에 관한 실험적 고찰

김응동

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

간단하고 정확한 RF MOSFET의 기판효과 모델링과 파라미터 추출방법

심용석 ,  양진모

한국산업정보학회 학술대회논문집

2002 .11

RF MOSFET의 기판 회로망 모델과 파라미터 추출방법

심용석 ,  강학진 ,  양진모

한국산업정보학회논문지

2002 .12

전력 MOSFET 소자의 γ선 영향

손주형 ,  김재환 ,  노영환

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

2004 .11

Si_1-xGe_x p-MOSFET 단채널효과의 해석학적 모델

남성진 ,  정윤하

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

SPICE 2 MOSFET 모델 파라미터 최적 추출 ( Optimized Extraction of SPICE2 MOSFET Model parameters )

공정택 ,  이창우 ,  박송배

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

SPICE2 MOSFET 모델 파라미터 최적 추출

공정택 ,  이창우 ,  박송배

대한전자공학회 학술대회

1984 .11

MOSFET의 1/f 잡음 스펙트럼과 I-V 특성관계 규명에 관한 연구 ( A Study on the Relationship Between 1/f Noise Characteristics in MOSFETs )

박정식 ,  김응동 ,  서정하

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

SOI MOSFET 의 소자 파라미터 추출 ( Extraction of Device Parameter for SOI MOSFET )

오정희 ,  박재홍 ,  김영조 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

전력 MOSFET

김종오

전기의세계

1988 .05

단채널 MOSFET의 열잡음모델링을 위한 잡음 파라메터의 분석과 추출방법

김규철

한국정보통신학회논문지

2009 .12

이중 확산 MOSFET의 C-V 특성

배동건 ,  정상구 ,  최한묵 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

이중 확산 MOSFET의 C-V특성 ( C-V Characteristics of Double diffused MOSFET )

최한묵 ,  배동건 ,  정상구 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

상온에서 짧은 채널 n-MOSFET의 이동도 감쇠 변수 추출에 관한 연구 ( A Study on the Extraction of Mobility Reduction Parameters in Short Channel n-MOSFETs at Room Temperature )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

전자공학회논문지

1989 .09