Interpretations of Risk-Sensitivity in Dynamic Optimization of Circuits and Systems

Chang Hee Won; Michael K. Sain; B. F. Spencer Jr.

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자료유형: 연구보고서

저자정보: Chang Hee Won Michael K. Sain B. F. Spencer Jr.

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 기타 간행물 APCCAS : Asia Pacific Conference on Circuits And Systems

발행연도: 1996.1

수록면: 191 - 194 (4page)

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