Effects of Low Temperature Interlayer Dielectric Films on the Oxide Reliability and Hot Carrier Immunity of Deep Submicron MOSFET`s

이상기 ,  Hi Deok Lee ,  Young Jong Lee 외 3명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

n-채널 SOI MOSFET의 I-V 특성연구

나준호 ,  고덕수 ,  남명희 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

n-채널 SOI MOSFET의 I-V 특성연구 ( A Study on I-V Characteristics of n-Channel SOI MOSFET )

나준호 ,  고덕수 ,  남명희 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

SOI MOSFET의 정전류 특성에 대한 후면 Bias의 영향

강재경 ,  박재홍 ,  김철주

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

SOI MOSFET의 정전류 특성에 대한 후면 Bias의 영향 ( An Effect of Back-Gate Bias on Static Current Characteristics in SOI-MOSFET )

강재경 ,  박재홍 ,  김철주

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법

장성준 ,  김용택 ,  유종근 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Hydrodynamic model을 이용한 Submicron MOSFET의 Simulation ( Simulation of Submicron MOSFET Using Hydrodynamic Model )

김충원 ,  한백형 ,  김경석

전자공학회논문지-A

1993 .11

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

n채널 SOI MOSFET의 제작과 특성 ( Fabrication and Characterization of the N-Channel SOI MOSFET )

윤석범 ,  김춘근 ,  민석기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

다중 게이트을 이용한 부분 공핍형 SOI MOSFET 특성에 관한 연구

신경식 ,  박윤권 ,  이성준 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1997 .07

SOI MOSFET 의 소자 파라미터 추출 ( Extraction of Device Parameter for SOI MOSFET )

오정희 ,  박재홍 ,  김영조 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

게이트가 파인 구조를 이용한 SOI MOSFET에서의 항복전압 개선 ( Breakdown Voltage Improvement in SOI MOSFET Using Gate-Recessed Structure )

최진혁 ,  박영준 ,  민홍식

전자공학회논문지-A

1995 .12

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

New Experimental Technique for Measuring the Hot-Carrier Gate-Current Noise-Spectrum in Short Channel MOSFET's

Adel E. El Hennawy

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

얇은 박막 SOI(Silicon-On-Insulator) MOSFET에서의 소자 변수 추출 방법

박성계 ,  김충기

대한전기학회 학술대회 논문집

1992 .07

소규모의 SOI MOSFET의 문턱 전압에 관한 연구 ( A Study on the Threshold Voltage of Small SOI MOSFET )

정승면 ,  김현철 ,  김청성

대한전자공학회 학술대회

1992 .01