MOSFET 기판 전류 모델링 ( Substrate-current Modeling in MOSFET )

선종국 ,  윤광섭

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

MOSFET 기판 전류 모델링

선종국 ,  윤광섭

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

비대칭 게이트 구조에서 충격 이온화를 이용한 핫 캐리어 주입 분석

장태진 ,  백명현 ,  황성민 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2018 .06

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향

정연식 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향 ( The Effects of Mobility Variation based on degradation of p-MOSFET's )

정연식 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

P-채널 MOSFET에서 게이트와 기판 전류의 시간에 따른 복원 특성

조상운 ,  장원수 ,  배지철 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

Two-Dimensional Non-local Impact Ionization Model for the Calculation of Substrate Current in Submicron SI MOSFET`s

Joon Woo Nam ,  Ting Wei Tang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

유기박막트랜지스터의 표면처리 효과

임상철 ,  김성현 ,  김미경 외 3명

한국재료학회 학술발표대회

2003 .01

몬테 칼로 방법을 이용한 실리콘 MOSFET의 드레인영역에서 77K와 300K의 Impact Ionization 특성

이준구 ,  박영준 ,  한민구

대한전기학회 학술대회 논문집

1989 .07

전류 제한 능력을 갖는 전력 MOSFET ( A Power MOSFET with Self Current Limiting Capability )

윤종만 ,  최연익 ,  한민구

전자공학회논문지-A

1995 .10

소신호 MOSFET 등가회로의 기판 파라미터 직접 추출 방법

이현준 ,  이성현

대한전자공학회 학술대회

2012 .06

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

유기 트랜지스터 재료 연구개발 동향

권순기 ,  김윤희 ,  김형선 외 1명

고분자 과학과 기술

2003 .10

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

게이트와 n￣ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n ￣ channel MOSFET with Gate - n￣ S/D Overlapped Structure )

이대우 ,  이우일

전자공학회논문지-A

1993 .02

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

유기박막 트랜지스터의 기술 동향

송정근

고분자 과학과 기술

2003 .02