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김두영 (Du-Yeong Kim) 논문수  · 이용수 1,411 · 피인용수 4

소속기관
상명대학교
소속부서
Dept. of Computer Science and Engineering
주요 연구분야
공학 > 전기전자공학 > 전자공학 공학 > 전기전자공학 > 정보통신공학 공학 > 컴퓨터학 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반
연구경력
-
  • 저자정보 . 논문
  • 공저자 . 저널

저자의 연구 키워드

저자의 연구 키워드
#다중 클럭
#시스템 온 칩
#연결선 지연 고장
#CAN Network
#code–based test data compression
#FDR Algorithm
#IEEE 1149.1
#IEEE 1500
#IEEE Std. 1149.7
#IEEE Std. 1500
#Interconnect Delay Fault
#low power
#low power testing
#Multiple Clocks
#Reduced Pin Count Test
#routing congestion
#scan chain reordering
#scan test
#SoC
#soc test
#Structural Test
#Test Access Mechanism
#Test Cost Reduction
#test data compression
#Test of Vehicular SoC
#Test Pattern Compression
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